DEFEKTOSKOP (lot. defectus — kamchilik va…skop) — metall va metallmas materiallardan qilingan buyumlardagi nuqsonlar (siniqlar, darzlar va b.) ni buyumlarga ziyon yetkazmasdan aniklash uchun moʻljallangan qurilma. Magnitli, rentgen va gamma nurlarga, ultratovush toʻlqinlariga, elektr induksiya hodisasiga asoslangan, kapillyar va b. turlari bor. Muqim (statsionar) qurilmalar, koʻchma asboblar, lab. asboblari tarzida ishlab chiqariladi. Muqim Defektoskopda nuqsonlarni ham aniklab, ham qayd qiladigan va bir yoʻla baholab ketadigan qurilmalar boʻladi. Kuchma Defektoskop milli (strelkali) ixcham asbob, yorugʻlik yoki tovush signallari beradigan asbob va b. bilan taʼminlanadi. Lab. da ishlatiladigan Defektoskop ancha sezgir boʻladi, koʻpin-cha, ossillograf va raqamli indikator bilan taʼminlanadi. Baʼzi Defektoskoplar tez harakatlanayotgan buyumlardagi nuqsonlarni aniklay oladi yoki oʻzi buyumga nisbatan harakatlanadi. Juda yuqori t-ragacha qizdirilgan buyumlardagi nuqsonlarni aniqlash uchun moʻljallangan Defektoskoplar ham bor (q. Defektoskopiya).